
Naukowcy z WAT opracowali metodę ułatwiającą kontrolę jakości urządzeń półprzewodnikowych
Wyniki badań nad nową metodą wykorzystującą informacje zaszyte w wynikach pomiaru szumu w urządzeniach półprzewodnikowych opisano w czasopiśmie „Measurement”. Współautorami artykułu są naukowcy z Wydziału Nowych Technologii i Chemii WAT. Przyczyni się ona do przyspieszenia procesu optymalizacji technologii kontroli jakości …