Naukowiec z WAT o tym, jak sztuczna inteligencja zdiagnozuje podstępną chorobę oczu
Z dr. hab. inż. Marcinem Kowalskim, prof. WAT, z Instytutu Optoelektroniki Wojskowej Akademii Technicznej, autorem artykułu „Diabetic retinopathy identification using parallel convolutional neural network based feature extractor and ELM classifier” opublikowanego w „Expert Systems with Applications”, rozmawia Dominika Naruszko.
Dominika Naruszko: …