![„Główny pomysł w opisanej w czasopiśmie „Measurement” pracy polega na zastosowaniu w analizie danych pomiarowych (szumu niskoczęstotliwościowego) modelu matematycznego opartego na funkcji koherencji. Dzięki specjalnemu przetwarzaniu danych przewidywano, że można uzyskać informację o źródle pochodzenia szumu, w sensie miejsca generacji. Przeprowadzone eksperymenty na zaprojektowanych i wytworzonych w WAT próbkach pomiarowych pozwoliły na udowodnienie tezy, że za ich powstawanie odpowiada obszar granicy metalograficznej złącza metal – półprzewodnik, a nie objętościowa część warstwy półprzewodnikowej – tłumaczy dr inż. Jacek Boguski z Wydziału Nowych Technologii i Chemii WAT.](https://promocja.wat.edu.pl/wp-content/uploads/2023/10/2023_10_04_sesja_wrobel_bogucki_wrobel_wcy_kp_005-450x253.jpg)
Naukowcy z WAT opracowali metodę ułatwiającą kontrolę jakości urządzeń półprzewodnikowych
Wyniki badań nad nową metodą wykorzystującą informacje zaszyte w wynikach pomiaru szumu w urządzeniach półprzewodnikowych opisano w czasopiśmie „Measurement”. Współautorami artykułu są naukowcy z Wydziału Nowych Technologii i Chemii WAT. Przyczyni się ona do przyspieszenia procesu optymalizacji technologii kontroli jakości …