Archiwa mikroelektronika - Dział Promocji i Komunikacji Wojskowej Akademii Technicznej

„Główny pomysł w opisanej w czasopiśmie „Measurement” pracy polega na zastosowaniu w analizie danych pomiarowych (szumu niskoczęstotliwościowego) modelu matematycznego opartego na funkcji koherencji. Dzięki specjalnemu przetwarzaniu danych przewidywano, że można uzyskać informację o źródle pochodzenia szumu, w sensie miejsca generacji. Przeprowadzone eksperymenty na zaprojektowanych i wytworzonych w WAT próbkach pomiarowych pozwoliły na udowodnienie tezy, że za ich powstawanie odpowiada obszar granicy metalograficznej złącza metal – półprzewodnik, a nie objętościowa część warstwy półprzewodnikowej – tłumaczy dr inż. Jacek Boguski z Wydziału Nowych Technologii i Chemii WAT.

Wyniki badań nad nową metodą wykorzystującą informacje zaszyte w wynikach pomiaru szumu w urządzeniach półprzewodnikowych opisano w czasopiśmie „Measurement”. Współautorami artykułu są naukowcy z Wydziału Nowych Technologii i Chemii WAT. Przyczyni się ona do przyspieszenia procesu optymalizacji technologii kontroli jakości …

Dział Promocji i Komunikacji

promocja@wat.edu.pl

„Głos Akademicki”

glos.akademicki@wat.edu.pl

Dział Promocji i Komunikacji Wojskowej Akademii Technicznej. All rights reserved.

Social media

Facebook

LinkedIn

YouTube

Instagram

Twitter

Back to top